二次元測量產(chǎn)品對稱度的步驟通常如下: 首先,需要明確基準(zhǔn)要求,比如面或線。以測量平面 1 與平面 2 相對于基準(zhǔn) A 的對稱度為例(默認(rèn)為左右共面): 1. 在基準(zhǔn) A 所指的兩個面分別測量,得到 PLN1 和 PLN2。 2. 構(gòu)造 PLN1 和 PLN2 的中分面 PLN3 作為基準(zhǔn) A。 3. 將坐標(biāo) Z 原點(diǎn)移至 PLN3(為后續(xù)抓點(diǎn)測量陣列做準(zhǔn)備)。 4. 在被側(cè)面平面 1 上抓取若干點(diǎn)(點(diǎn)數(shù)可根據(jù)實際情況確定),比如點(diǎn) 1 至點(diǎn) 6。 5. 運(yùn)用陣列功能,得到相應(yīng)的點(diǎn)(如點(diǎn) 7 至點(diǎn) 12)。 6. 構(gòu)造特征組,選點(diǎn)要一一對應(yīng),得到掃描 1(即被測對象)。 7. 評價對稱度,將 PLN3 定義為基準(zhǔn) A,掃描 1 為被測。 另外,在測量時要保證二次元影像測量儀在有效的校準(zhǔn)期間內(nèi),熟悉零件圖紙和測量要求,以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
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