二次元測量產(chǎn)品對稱度高低的方法如下:
首先,要熟悉零件圖紙和測量要求,按照坐標基準評估幾何形位公差。結(jié)合測量要求和基準位置,擺放零件并盡可能在一個擺放位測量到更多的尺寸,以提高檢測效率。對于成為基準的特征邊界或平面,如果具有良好的邊界條件和平面度,其余特征的測量位置及重復性會得到較好的保障。另外,編程人員需要熟悉對應產(chǎn)品圖紙的邊界位置,以防測錯邊界。
在測量時,先對焦,后對準,再讀數(shù)(計數(shù)),然后計算處理。讀數(shù)來自于標尺即光柵系統(tǒng),對焦對準依靠光學影像系統(tǒng),還有一個直接影響測量效果和精度的照明光源,因為基于影像方法測量的儀器,如果被測件不能被有效正確的照明,則測量的結(jié)果會偏離其真實尺寸。
以測量平面 1 與平面 2 相對于基準 A 的對稱度為例(默認為左右共面),測量步驟如下:
1. 在基準 A 所指兩個面分別測量 PLN1、PLN2。
2. 構(gòu)造 PLN1 和 PLN2 的中分面 PLN3 作為基準 A。
3. 將坐標 Z 原點移至 PLN3(為后面抓點測量陣列做準備)。
4. 在被側(cè)面平面 1 上抓取 6 點(點數(shù)可以根據(jù)實際情況),點 1 - 點 6。
5. 運用陣列功能,得到點 7 - 點 12(用陣列是為了讓點能測量到相對應的位置)。
6. 構(gòu)造特征組選點要一一對應,得到掃描 1(即被測對象)評價對稱度,將 PLN3 定義為基準 A,掃描 1 為被測。
此外,測量時要保證二次元影像測量儀在有效的校準期間內(nèi)。
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